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Sonstige Lieferungen
Titel Ausführungsort Frist
FGIS-Prozessautomatisierung 2022GL-21005-018a DE-01796 20.04.2023
Lieferung von einem Analysator DE-27570 24.03.2023
Lieferung eines Laserscanners AT-1190 23.03.2023
Beschaffung eines Vermessungsmonitoringsystems für TBL-G in Gorleben DE-45127 23.03.2023
Lieferung von Hochauflösende TerraSAR-X/ TanDEM-X Satellitenbilder DE-27570 23.03.2023
Beschaffung eines Ultra-Hoch-Vakuum STEM DE-40237 20.03.2023
Lizenzen und Pflegeleistungen für Software inpho DE-53177 20.03.2023
Titel
Liefeung von Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Vergabeverfahren
Vergebener Auftrag
Lieferauftrag (VOL)
Auftraggeber
Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP)
Im Technologiepark 25
15236 Frankfurt (Oder)
Ausführungsort
DE-15236 Treplin
Beschreibung
Abschnitt I:
I.1) IHP GmbH
Im Technologiepark 25
15236 Frankfurt (Oder)
E-Mail: rohnerihp-microelectronics.com
Internet: www.ihp-microelectronics.com
I.2) Gemeinsame Beschaffung
I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers Andere: Forschung und Entwicklung
I.5) Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung
Abschnitt II: Gegenstand
II.1) Umfang der Beschaffung
II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie. Referenznummer der Bekanntmachung: IHP-2017-038
II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38000000
II.1.3) Art des Auftrags Lieferauftrag
II.1.4) Kurze Beschreibung: Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen. In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.
II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7) Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.)
II.2) Beschreibung
II.2.1) Bezeichnung des Auftrags
II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s)
II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE403
II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben, 2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen. In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools erwähnt.
Plattform:- — Apertureless Nahfeld-Scan-Technologie für hochwertige optische Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen, organischen Polymeren, ohne Verwendung von Fasern. — Fähigkeit, Frequenzbereich von sub-THz bis hin zu sichtbarem Spektrum zu akzeptieren — Anforderung an eine hochstabile Atomkraftmikroskopie (AFM) optimierte Einrichtung, die für alle Proben geeignet ist, die mit der Standard-AFM-Technik kompatibel sind. Standard AFM Probenvorbereitung erforderlich — räumliche Auflösung in der Größenordnung von 10 nm. Die räumliche Auflösung sollte durch die AFM-Spitze definiert werden. — Das Werkzeug sollte modular sein, wo verschiedene Bild- und Spektroskopiemodule hinzugefügt werden können, um die Funktionalität des Werkzeugs zu erhöhen
Imaging und Detektion System: - — Fähigkeit zur Abbildung im visuellen Spektrum und MID-IR-Spektrumbereiche. — Fähigkeit zur elektrischen Feldabbildung von organischen, anorganischen, Halbleiterproben und plasmonischen Strukturcharakterisierung. — Fähigkeit zur Charakterisierung von 2D-Halbleitern mit Empfindlichkeit bis zur Einzelmonoschicht. — Sollte die Nano-Imaging-Fähigkeit mit austauschbaren sichtbaren Strahlengang-Konfiguration und MID-IR-Strahlengang Konfiguration. — Anforderung eines interferometrischen Strahlengangs für optische Amplituden- und Phasendetektion. — Anforderung von Reflexions- und Getriebeerkennungsmodulen. — Die Module sollten in der Lage sein, den Frequenzbereich von Sub-THz zu sichtbarem Spektrum zu erfassen. — Anforderung einer modularen und austauschbaren Strahlteileranordnung für unterschiedliches Betriebs- betrieb. — Für den interferometrischen Strahlengang für Amplituden- und Phasenmessungen sollte der Detektor in der Lage sein, eine Amplituden- und Phasenauflösungserfassung zu ermöglichen. — Abmessungen der Bodenbeleuchtung für den Transmissionsmodus-Detektor möglich. — Der Übertragungsmodus-Detektor sollte für die Wellenwellenbeleuchtung geeignet sein.
Nahfeld-Spektroskopie-Modul (FTIR) — Fähigkeit des Nahfeldes Nano FTIR. — Das FTIR-Modul sollte auch interferometrisches Design aufweisen, das gleichzeitig den Brechungsindex und die Extinktion messen kann. — Ermöglicht das Erreichen eines hohen Signal-Rausch-Verhältnisses des Spektroskopiesignals durch Entkoppeln des Hintergrund-Rauschens.
TeraHertz Zeitbereich Spektroskopie — Fähigkeit, Nahfeld Tera Hertz Bildgebung und Spektroskopie. — Ermöglicht die Messung des Frequenzbereichs von 0,1 THz bis 3 THz. — Fähigkeit der Zeitdomäne THz Spektroskopie. — Die Arbeit des Werkzeuges sollte auf dem Femtosekunden-Laser basieren.
II.2.5) Zuschlagskriterien Kostenkriterium - Name: Preis / Gewichtung: 40 % Kostenkriterium - Name: Funktionalität entsprechend Anforderungen in der Leistungsbeschreibung / Gewichtung: 60 %
II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: nein
II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14) Zusätzliche Angaben
Abschnitt IV: Verfahren
IV.1) Beschreibung
IV.1.1) Verfahrensart Offenes Verfahren
IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.6) Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
IV.2) Verwaltungsangaben
IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2017/S 084-162914
IV.2.8) Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9) Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation
Abschnitt V: Auftragsvergabe
Auftrags-Nr.: IHP-2017-038 Bezeichnung des Auftrags: Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie Ein Auftrag/Los wurde vergeben: nein
V.1) Information über die Nichtvergabe Der Auftrag/Das Los wird nicht vergeben Es sind keine Angebote oder Teilnahmeanträge eingegangen oder es wurden alle abgelehnt
Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.3) Zusätzliche Angaben
VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft und Europaangelegenheiten Heinrich-Mann-Allee 107 Potsdam 14473 Deutschland
VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen
VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt
VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 28.08.2017
Veröffentlichung
Geonet Vergabe 19827 vom 05.09.2017