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Sonstige Lieferungen
Titel Ausführungsort Frist
Lieferung von einem Analysator DE-27570 24.03.2023
Lieferung eines Laserscanners AT-1190 23.03.2023
Beschaffung eines Vermessungsmonitoringsystems für TBL-G in Gorleben DE-45127 23.03.2023
Lieferung von Hochauflösende TerraSAR-X/ TanDEM-X Satellitenbilder DE-27570 23.03.2023
Beschaffung eines Ultra-Hoch-Vakuum STEM DE-40237 20.03.2023
Lizenzen und Pflegeleistungen für Software inpho DE-53177 20.03.2023
Titel
Lieferung von einem Rastersondenmikroskop
Vergabeverfahren
Vergebener Auftrag
Lieferauftrag (VOL)
Auftraggeber
Universität Siegen
Hölderlinstraße 3
57076 Siegen
Auftragnehmer
Scienta Omicron GmbH
Limburger Strasse 75
65232 Taunusstein
Ausführungsort
DE-57076 Siegen
Beschreibung
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
I.1) Universität Siegen
Adolf-Reichwein-Str. 2a
57076 Siegen
Deutschland
Kontaktstelle(n): Vergabestelle
E-Mail: ausschreibungenzv.uni-siegen.de
Internet: http.:www.uni-siegen.de
I.2) Gemeinsame Beschaffung
I.4) Art des öffentlichen Auftraggebers Einrichtung des öffentlichen Rechts
I.5) Haupttätigkeit(en) Bildung
Abschnitt II: Gegenstand
II.1) Umfang der Beschaffung
II.1.1) Bezeichnung des Auftrags: UHV-LTSPM Referenznummer der Bekanntmachung: 1.3-IV-02N2021EP
II.1.2) CPV-Code Hauptteil 38514200
II.1.3) Art des Auftrags, Lieferauftrag
II.1.4) Kurze Beschreibung: Lieferung eines fabrikneuen unbenutzten Tieftemperatur-Rastersondenmikroskops unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV-LTSPM) mit geschlossenem Kühlkreislauf sowie Verbringung an den definierten Verwendungsort und Versetzen in einen voll betriebsbereiten und abnahmefähigen Zustand (Werkliefervertrag). Das UHV-LTSPM soll der genauen Bestimmung der geometrischen und elektronischen Struktur fortgeschrittener zweidimensionaler (2D) Materialien dienen und ist damit ein Schlüsselinstrument im Forschungsgebiet „Nanowissenschaften und Nanotechnologie“ sein. Es soll uns ermöglichen, Nanomaterialien mit Methoden der Oberflächenforschung zu präparieren und zu charakterisieren. Insbesondere ist vom LTSPM Spektroskopie in höchster Orts- und hoher Energieauflösung gefordert. Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) sollen über unsere bisherigen Arbeiten hinaus einzelne chemische Bindungen sowie schlecht leitende Systeme analysiert werden. Die Apparatur soll den uns zugänglichen Temperaturbereich signifikant erweitern. Im Einzelnen sollen an der Anlage folgende Themen behandelt werden:
(i) Korrelierte Elektronen in 2D-Metallen,
(ii) Heterostrukturen von Dichalkogeniden der Übergangsmetalle als Modellsysteme für ultradünne Schaltkreise,
(iii) Klassifizierung und Bestimmung der elektronischen Eigenschaften von Defekten in hexagonalem Bornitrid (potenzielle Einzelphotonenquellen),
(iv) Erforschung ultradünner Ferroelektrika (z. B. GeSe) als mögliche Materialien für Sensoren und nichtflüchtige Speicher, und
(v) Charakterisierung epitaktisch gewachsener Zinnperowskite als alternative Materialien für die Photovoltaik, insbesondere mit Blick auf den Einfluss von Störstellen.
II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7) Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.) Wert ohne MwSt.: 1,00 EUR
II.2) Beschreibung
II.2.1) Bezeichnung des Auftrags
II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s) 38514200
II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DEA5A, Hauptort der Ausführung: Universität Siegen Walter-Flex-Str. 3 57072 Siegen, Die Lieferung muss an die in der Lieferadresse angegeben Raum erfolgen: Universität Siegen, Emmy-Noether-Campus, Walter-Flex-Str. 3, Gebäudeteil B, Untergeschoss, Raum ENC-B 0127, 57072 Siegen
II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: Lieferung eines fabrikneuen unbenutzten Tieftemperatur-Rastersondenmikroskops unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV-LTSPM) mit geschlossenem Kühlkreislauf sowie Verbringung an den definierten Verwendungsort und Versetzen in einen voll betriebsbereiten und abnahmefähigen Zustand (Werkliefervertrag). Das UHV-LTSPM soll der genauen Bestimmung der geometrischen und elektronischen Struktur fortgeschrittener zweidimensionaler (2D) Materialien dienen und ist damit ein Schlüsselinstrument im Forschungsgebiet „Nanowissenschaften und Nanotechnologie“ sein. Es soll uns ermöglichen, Nanomaterialien mit Methoden der Oberflächenforschung zu präparieren und zu charakterisieren. Insbesondere ist vom LTSPM Spektroskopie in höchster Orts- und hoher Energieauflösung gefordert. Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) sollen über unsere bisherigen Arbeiten hinaus einzelne chemische Bindungen sowie schlecht leitende Systeme analysiert werden. Die Apparatur soll den uns zugänglichen Temperaturbereich signifikant erweitern. Im Einzelnen sollen an der Anlage folgende Themen behandelt werden:
(i) Korrelierte Elektronen in 2D-Metallen,
(ii) Heterostrukturen von Dichalkogeniden der Übergangsmetalle als Modellsysteme für ultradünne Schaltkreise,
(iii) Klassifizierung und Bestimmung der elektronischen Eigenschaften von Defekten in hexagonalem Bornitrid (potenzielle Einzelphotonenquellen),
(iv) Erforschung ultradünner Ferroelektrika (z. B. GeSe) als mögliche Materialien für Sensoren und nichtflüchtige Speicher, und
(v) Charakterisierung epitaktisch gewachsener Zinnperowskite als alternative Materialien für die Photovoltaik, insbesondere mit Blick auf den Einfluss von Störstellen.
II.2.5) Zuschlagskriterien Qualitätskriterium - Name: Leistungsfähigkeit / Gewichtung: 30, Qualitätskriterium - Name: Kühlkonzept / Gewichtung: 20, Qualitätskriterium - Name: Wartungskonzept / Gewichtung: 20, Preis - Gewichtung: 30
II.2.11) Angaben zu Optionen: Optionen: nein
II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union: Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14) Zusätzliche Angaben
Abschnitt IV: Verfahren
IV.1) Beschreibung
IV.1.1) Verfahrensart: Offenes Verfahren
IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.6) Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2) Verwaltungsangaben
IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
IV.2.2) Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
IV.2.4) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2021/S 022-051994
IV.2.8) Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9) Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation
Abschnitt V: Auftragsvergabe Auftrags-Nr.: 1.3-IV-02N2021EP
Los-Nr.: 1 Bezeichnung des Auftrags: UHV-LTSPM, Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2) Auftragsvergabe
V.2.1) Tag des Vertragsabschlusses 01.06.2021
V.2.2) Angaben zu den Angeboten Anzahl der eingegangenen Angebote: 2, Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3) Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde Scienta Omicron GmbH, Taunusstein, Deutschland, NUTS-Code: DE71D, Der Auftragnehmer ist ein KMU: ja
V.2.4) Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.) Gesamtwert des Auftrags/Loses: 1,00 EUR
V.2.5) Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen
Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.3) Zusätzliche Angaben: Bekanntmachungs-ID: CXPNY56DBCU
VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammer Westfalen bei der Bezirksregierung Münster, Albrecht-Thaer-Str. 9, Münster, 48128, Deutschland, E-Mail: vergabekammerbrms.nrw.de
VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Statthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit: — der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, — Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, — Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden oder — mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach§ 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt
VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 01.06.2021
Veröffentlichung
Geonet Vergabe 37921 vom 07.06.2021