II.1.4) Kurze Beschreibung: Das Gerät soll zu korrelativen Analysen der Oberflächen-Topographie und der Infrarot-Spektroskopie von Polymerproben im nanoskaligen Bereich dienen. Mit diesem Zweck soll vor allem möglich sein, Nano- und Mikropartikel von diversen Kunstoffen (wie z. B. PS, PE usw.) im komplexen biologischen Umfeld (wie z. B. in-vitro-Zellkulturen oder Gewebeschnitte) zu charakterisieren.

II.1.6) Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein

II.1.7) Gesamtwert der Beschaffung (ohne MwSt.) Wert ohne MwSt.: 420.000,00 EUR

II.2) Beschreibung

II.2.1) Bezeichnung des Auftrags

II.2.2) Weitere(r) CPV-Code(s) 38433000

II.2.3) Erfüllungsort NUTS-Code: DE80N

II.2.4) Beschreibung der Beschaffung: 1. Eine durchstimmbare MID-IR-Laser-Konfiguration (QCLs) ermöglicht eine schnelle Erfassung der IR Spektren im Spektralbereich von mindestens 1800 cm-1 bis mindestens 800 cm-1. Das spektrale Leistungsprofil und die QCL-Geschwindigkeit sollen angegeben werden (je breiter das spektrale Intervall und je schneller die QCLs, desto besser). 2. Die spektrale Auflösung beträgt mindestens 4 cm-1 (je kleiner der Wert, desto besser). Im Gerät werden hochwertige QCLs mit hoher Richtungsstabilität, stabiler Leistung und mit hoher spektraler Genauigkeit integriert. 3. Der optische Aufbau des Gerätes ermöglicht einen Polarisator zu integrieren, um den Polarisationszustand des einfallenden Strahles zu steuern. 4. Das Integrierte AFM-Modul soll Topographieanalyse mit lateraler Auflösung von mindestens 10 nm ermöglichen (je kleiner der Wert, desto besser). 5. Die maximale AFM-Scan-Fläche in einer Abbildung ist mindestens 50×50 m2 (je größer der Bereich ist, desto besser). 6. Das Gerät soll über Messmoden verfügen: nanothermisches Mapping, oberflächensensitive Mode, Tapping-Mode, Kontakt-Mode, Messung von Kraftkurven, Phasenkontrast-Darstellung, Option für Kraft-Modulation. 7. Im Gerät ist ein Lichtmikroskop für Übersichtsaufnahmen mit entsprechendem Maßstab integriert, wobei die Positionszuordnung der AFM-Aufnahmen innerhalb der Lichtmikroskopie-Aufnahmen eindeutig sein muss. 8. Am Lichtmikroskop ist eine hochauflösende Kamera mit Sensorgröße von mindestens 5Mpixels angebaut. Ein gutes Navigationssystem sorgt für einen genauen Übergang von klein- bis groß gezoomten Aufnahmen – vom optischen Mikroskop bis AFM. 9. Das Gerät ermöglicht eine Konfiguration mit einem Epifluoreszenzmikroskop anstelle des einfachen Lichtmikroskops für Übersichtsaufnahmen. 10. Der Steuerrechner zum Gerät entspricht dem neuesten Stand (Windows 10 Enterprise) und integriert keine gerätspezifische Hardware. 11. Zu der Steuersoftware gehören mindestens 3 Lizenzen (1 Messlizenz, 2 Floating-Lizenzen) und die Updates werden mindestens 3 Jahre kostenfrei garantiert, wenn das Gerät unverändert und funktionstüchtig bleibt. 12. Die Software verfügt neben weiteren über diese Optionen: — 2D-Matrix-Rechnung: mehrere Mapping-Ergebnisse können bearbeitet werden, so dass z.B. Linien-Verhältnisse aus den gemessenen Messbereichen berechnet werden können, — 3D-Matrix-Rechnung: hyperspektrale 3D-Datensätze können bearbeitet werden, so dass z. B. gewählte 2D-Matrices (für bestimmtes x oder y, oder v) extrahiert und mit einander verglichen werden können, — Kombinierte Daten-Bearbeitung aus den spektroskopischen und topografischen Messungen soll möglich werden, z. B. gemischte Darstellung des chemischen Mapping in der 3D-Topografie, — Weitere Funktionen der Datenbearbeitung innerhalb der Steuersoftware sollen möglich werden (z. B. Baseline-Korrektur, Normierung, Glättung, Statistik etc.). 13. Die Software integriert eine MIR-spektrale Datenbank herkömmlicher Polymermaterialien, die einen instantanen offline Spektren-Vergleich ermöglicht. 14. Doppelmonitor oder zwei Monitore mit Ultra-HD (4K-Monitor).

II.2.5) Zuschlagskriterien Qualitätskriterium - Name: Spezifikationen / Gewichtung: 70 Preis - Gewichtung: 30

II.2.11) Angaben zu Optionen Optionen: ja Beschreibung der Optionen: Optionen: ja Beschreibung der Optionen: — Es besteht die Möglichkeit, den Spektralbereich auf 2 700 – 3 600 cm-1 zu erweitern, — Es besteht die Möglichkeit, einen Polarisator zu integrieren (s. Punkt 3 in der technischen Spezifikation). Ein Polarisator selbst soll optional angeboten werden, — Es besteht die Möglichkeit, die Probentemperatur auf dem Probentisch zu messen und zu regeln, — Ein geeigneter optischer Tisch wird optional angeboten, — Präsentation des Gerätes weist auch auf die Grenzen des Gerätes hin (z. B. Messartefakte, Temperaturschwankungseffekte, Signal/Rauschen-Verhältnis, Lebensdauer und Stabilität der austauschbaren Komponenten, etc.), — Ein Jahr Garantie verlängert 24 Monate gesetzliche Gewährleistung und eine genaue Beschreibung des Inhaltes der Garantie wird spezifiziert (z. B. Garantie für QCLs, AFM-Modul). Angaben zum Umfang der regelmäßigen Wartungsarbeiten sind gewünscht.

II.2.13) Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein

II.2.14) Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1) Beschreibung

IV.1.1) Verfahrensart Offenes Verfahren

IV.1.3) Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem

IV.1.6) Angaben zur elektronischen Auktion

IV.1.8) Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja

IV.2) Verwaltungsangaben

IV.2.1) Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren

IV.2.2) Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge

IV.2.4) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2021/S 129-341612

IV.2.8) Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems

IV.2.9) Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe Auftrags-Nr.: INP-32-2021 Bezeichnung des Auftrags: AFM-IR-Mikroskop Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja

V.2) Auftragsvergabe

V.2.1) Tag des Vertragsabschlusses 07.02.2022

V.2.2) Angaben zu den Angeboten Anzahl der eingegangenen Angebote: 2 Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 0 Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0 Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0 Anzahl der elektronisch eingegangenen Angebote: 2 Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein

V.2.3) Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde attocube systems AG Eglfinger Weg 2 Haar (Munich) 85540 Deutschland Telefon: +49 894207970 E-Mail: infoattocube.com Fax: +49 8942079720190 NUTS-Code: DE Internet: http.:www.attocube.com Der Auftragnehmer ist ein KMU: nein

V.2.4) Angaben zum Wert des Auftrags/Loses (ohne MwSt.) Gesamtwert des Auftrags/Loses: 414.400,00 EUR

V.2.5) Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3) Zusätzliche Angaben

VI.4) Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren

VI.4.1) Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Vergabekammern des Landes Mecklenburg-Vorpommern bei dem Ministerium für Wirtschaft, Arbeit und Gesundheit Johannes-Stelling-Str. 14 Schwerin 19053 Deutschland Telefon: +49 3855885160 Fax: +49 3855884855817 Internet: http.:www.regierung-mv.de

VI.4.2) Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren Vergabekammern des Landes Mecklenburg-Vorpommern bei dem Ministerium für Wirtschaft, Arbeit und Gesundheit Johannes-Stelling-Str. 14 Schwerin 19053 Deutschland Telefon: +49 3855885160 Fax: +49 3855884855817 Internet: http.:www.regierung-mv.de

VI.4.3) Einlegung von Rechtsbehelfen Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: § 160 GWB Einleitung, Antrag (1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. (2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.

VI.4.4) Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie e.V. Felix-Hausdorff-Str. 2 Greifswald 17489 Deutschland Telefon: +49 38345543974 E-Mail: inp-vergabeinp-greifswald.de Fax: +49 3834554375 Internet: http.:www.inp-greifswald.de/

VI.5) Tag der Absendung dieser Bekanntmachung Tag: 07.02.2022

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Veröffentlichung

Geonet Vergabe 42072 vom 13.02.2022