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Titel Ausführungsort Frist
Ausbau von Messstellen DE-60528 24.06.2019
Verrichtung von Baugrundverfestigungsarbeiten an Knappensee DE-01968 24.06.2019
Erkenntnisse über die Hintergrundbelastung von Umweltproben DE-06844 24.06.2019
Errichtung der LCKW-Grundwassersanierung DE-59846 24.06.2019
Analyse und Entnahme von Bodenproben DE-84489 24.06.2019
Bestandsdatenerfassung des Makrozoobenthos im Bereich der Außenems DE-26725 24.06.2019
▼ Analyse von Schichtsystemen DE-52072 22.06.2019
Beschaffung einer semistationären Geschwindigkeitsüberwachungsanlage DE-26441 22.06.2019
Tests und Analysen bezüglich Zusammensetzung und Reinheit DE-76131 21.06.2019
Titel
Analyse von Schichtsystemen
Vergabeverfahren
Verfahren zur Vor-Information
Dienstleistungsauftrag (VOL/VOF)
Ausführungsort
DE-52072 Aachen
Frist
22.06.2019
Beschreibung
a) RWTH Aachen University
Wüllnerstraße 5
52062 Aachen
E-Mail: beschaffungzhv.rwth-aachen.de
b) Art und Umfang der Leistung Alle am IOT entwickelten Schichtsysteme werden hinsichtlich der chemischen Zusammensetzung mittels der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) analysiert. Die Quantifizierung von Elementen mit einem minimalen Anteil in bestimmten Bereichen wie beispielsweise an Phasengrenzen und in Ausscheidungen soll durch die EDX-Analysen ermöglicht werden. Weiterhin sind Raster-elektronenmikroskopie (REM)-Untersuchungen zwecks Betrachtung der Morphologie und Schichtdicken- bestimmung vorgesehen. Die Korrelation zwischen den ermittelten Schichteigenschaften und den verwendeten Beschichtungsparametern wird untersucht. Darauf basierend wird iterativ die Schichtentwicklung hinsichtlich der Parameterauswahl fortgesetzt. Daher handelt es sich hierbei um Analysen, die in kurzen Abständen wiederholt werden müssen. Ein zentrales Ziel im vorliegenden Vorhaben besteht darin, Beschichtungen mit einer nanocomposite (nc)-Struktur herzustellen. Diese Schichtmikrostruktur ist hinsichtlich der Erosions- und Korrosions-beständigkeit für die adressierte Anwendung zielführend. Für den Nachweis der nc-Struktur wird die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) benötigt. Hierzu muss zunächst eine dünne, elektronen-transparente Lamelle aus der Beschichtung mittels der Focused Ion Beam (FIB)-Technik präpariert werden. Mittels TEM sollen hochaufgelöste Bilder (bis zu 880.000x-fache Vergrößerung) auf-genommen werden. Weiterhin wird die Elektronenbeugung zur Phasenanalyse durchgeführt. Da dem IOT im Rahmen der apparativen Ausstattung am Institut weder REM/EDX noch TEM zur Verfügung steht, sollen die erwähnten Untersuchungen als Unteraufträge vom IOT an ein Dienst-leistungsunternehmen vergeben werden. Aufgrund der Komplexität der Schicht-charakterisierung und der individuellen Anforderungen für das jeweilige Schichtsystem ist es essentiell, dass die Analysen nur unter der Aufsicht eines/r erfahrenen wissenschaftlichen Mitarbeiters/in des IOT durchgeführt werden können.
Haupterfüllungsort Bezeichnung RWTH Aachen University Postanschrift Kackertstraße 15 Ort 52072 Aachen
c) Ausführungsfristen Zeitraum der Leistungserbringung Einzelne Analysen über einen Zeitraum von bis zu zwei Jahren.
d) Zusätzliche Angaben Bekanntmachungs-ID: CXPNY61Y2FH
Veröffentlichung
Geonet Ausschreibung 28939 vom 22.05.2019